آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM)

موضوع فارسی: آستانه خطای درگاه های مجزای معیوب به وسیله ماتریس احتمال جابجایی (PTM) موضوع انگلیسی: Error Threshold for Individual Faulty Gates Using Probabilistic Transfer Matrix (PTM) تعداد صفحه: 8 فرمت فایل: PDF سال انتشار: 2014 زبان مقاله:‌ انگلیسی     چکیده: در پیشرفت از تکنولوژی CMOS به فناوری نانو، که قادر به ارزیابی قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی مبتنی بر نانو است که به سرعت لازم تبدیل شدن است. با توجه به این پدیده، چندین روش محاسباتی مبتنی بر برای ارزیابی ...