موضوع فارسی :معماری نوین برای اسکن همراه در قدرت پایین تست مدارات موضوع انگلیسی :<!--StartFragment --> A Novel Architecture for Scan Cell in Low Power Test Circuitry تعداد صفحه :6 فرمت فایل :PDF سال انتشار :2015 زبان مقاله : انگلیسی چکیدهدر طول دهه VLSI صنعت ساخت گذشته شکوفایی بسیار سریع باشد. در حال حاضر روز صدها و هزاران نفر از میلیون ها ترانزیستور هستند که بر روی یک تراشه گنجانیده شده است. به عنوان طراحی پیچیدگی مدار افزایش مدارات آزمون نیز پیچیده تر شد. این مدار تست پیچیده به ...